试件磁粉探伤必须具备的条件是（）

A.单探头法

B.斜探头法

C.双晶片直射法

D.串列式探伤

A.纵波

B.横波

C.表面波

D.板波

A.相垂直的面

B.相平行的面

C.倾斜的面

D.以上都不对

A.型式检验试件必须采用未经过预拉的试件

B.型式检验试件必须采用经过预拉的试件

C.型式检验的试件由送检单位装配好后送达检验机构

D.拧紧力矩值达到最小拧紧力矩值后可不用记录在检验报告中

A.发现试件中涡流变化

B.在试件中激励出涡流

C.发现试件中的分子磁矩

D.激励出试件磁畴

A.电导率

B.磁导率

C.几何形状

D.以上均是

A.试件成型底面

B.试件成型顶面

C.试件成型侧面

D.ABC选项都可以